1、iec60747-5半导体分立器件及集成电路（1992）；
2、iec60747-5-2半导体分立器件及集成电路零部件，5-2：光电子器件--分类特征及要素（1997-09）；
3、iec60747-5-3半导体分立器件及集成电路，5-3：光电子器件--测试方法（1997-08）；
4、iec60747-12-3半导体分立器件，12-3：光电子器件-显示用发光二极管空白详细标准（1998-02）；
5、cie127-1997led测试方法（1997）；
6、cie/isoled强度测试标准。
国际照明委员会（cie）1997年发表的cie127-1997led测试方法，把led强度测试确定为平均强度的概念，并且规定了统一的测试结构和探测器大小，为led的准确测试比对奠定了基础。虽然cie127-1997测试方法并非国际标准，但它容易实施准确测试比对，目前世界上主要企业都已采用。但是随着技术的快速发展，许多新的led技术特性在cie127-1997led测试方法中没有涉及。
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